WOTAN

自动光学检测(AOI)解决方案

WOTAN:下一代全自动光学检测(AOI) 设备,具有全彩光学拍照和双面检测能力

WOTAN 是一款全自动的程式自动设定(无需人工参数选择)且高速的AOI设备。

WOTAN 使用全彩光学影像,实现更好的灵敏度和缺陷分类(相比市场上其他典型的使用黑白影像AOI系统)。

WOTAN 能够同步对晶圆的正面和背面进行检测。

一个关键应用是高吞吐量的工艺监控和设备控制,提供易于查阅的即时结果显示选项,能够缩短发现/消除缺陷的时间周期。

WOTAN 可单独使用,也可与晶边检测模块结合使用。

无尘室中的 WOTAN 工具

探索WOTAN关键使用案例

  • 拥有大量产品复杂,大量检测程式的晶圆厂,希望尽量减少人工/操作员。
  • 光刻离焦和曝光区域倾斜问题
  • 颜色缺陷检测与分类
  • 晶圆级缺陷特征检测
  • 背面粗糙度监控
  • 背面缺陷监控
  • 自动屏蔽切割道区域
Wafer on a AOI inspection tool